La máquina AOI híbrida BM311B se aplica principalmente a la inspección de apariencia de módulos semiconductores de potencia, IPM, sustratos y productos AMB, y permite medir las dimensiones de la matriz, el cable, la unión, DBC, Pin y detectar sus defectos.
Tamaño del módulo
Máx. 400 x 400 mm
Tasa de llamadas falsas
≤2 %
Rápido y preciso
Gane el reconocimiento de los clientes por un rendimiento de detección excepcional y una integración de automatización confiable
Alta compatibilidad
Soporta la detección de defectos de IGBTs, IPMs, sustratos y productos AMB
Alta eficiencia
Hasta 600UPH para inspección de sustratos de 40∗40mm^2
Excelente precisión
La precisión de detección y medición 2D y 3D alcanza ±5μm@3σ
Fácil de usar
La generación automática de áreas de inspección basada en IA facilita mucho la creación de recetas